Cakrawalaasia.news, JAKARTA – Direktorat Jenderal Kekayaan Intelektual (DJKI) Kementerian Hukum memperkuat kerja sama dengan Badan Riset dan Inovasi Nasional (BRIN) untuk mempercepat pemeriksaan paten nasional. Kolaborasi tersebut menjadi bagian dari strategi DJKI dalam mencapai target zero backlog pemeriksaan paten pada akhir 2026 sekaligus mendukung transformasi menuju kantor kekayaan intelektual kelas dunia.
Dirjen Kekayaan Intelektual Hermasyah Siregar mengatakan, peningkatan jumlah permohonan paten membutuhkan dukungan sumber daya manusia yang memadai. Karena itu, DJKI membuka peluang kolaborasi dengan BRIN yang memiliki banyak peneliti berlatar belakang ilmu teknik dan sains.
“BRIN sangat produktif menghasilkan permohonan paten. Kami melihat potensi besar untuk membangun sinergi sehingga para peneliti dapat berkontribusi memperkuat ekosistem paten nasional, baik melalui peningkatan kualitas drafting maupun dukungan terhadap pemeriksaan paten,” ujar Hermansyah di Gedung DJKI, Jakarta pada Rabu, 24 Juni 2026.
Menurut Hermansyah, kebutuhan pemeriksa paten akan terus meningkat seiring pertumbuhan permohonan paten dalam beberapa tahun ke depan. Oleh sebab itu, DJKI tengah menyiapkan berbagai skema kolaborasi, termasuk penugasan peneliti dan pembukaan peluang alih jabatan bagi aparatur sipil negara yang memiliki kompetensi teknis sesuai kebutuhan pemeriksaan paten.
Selain memperkuat dukungan sumber daya manusia, kedua instansi juga sepakat memperpanjang Perjanjian Kerja Sama (PKS) yang telah berjalan sebelumnya. Dalam perpanjangan tersebut akan dimasukkan sejumlah substansi baru, termasuk bantuan tenaga ahli pemeriksaan paten, pembentukan Sentra Kekayaan Intelektual (KI) di lingkungan BRIN, serta penguatan ekosistem valuasi KI melalui pengembangan standar kompetensi dan sertifikasi profesi.
Lebih lanjut, Sekretaris DJKI, Tessa Harumdila, menyampaikan bahwa pelatihan menjadi tahapan penting sebelum peneliti BRIN dapat terlibat dalam proses pemeriksaan paten. Menurutnya, karakter pemeriksaan paten memiliki pendekatan yang berbeda dengan penilaian karya ilmiah maupun artikel jurnal.
“Pelatihan perlu dilakukan terlebih dahulu agar para peneliti memahami standar dan metode pemeriksaan paten. Dengan demikian, ketika nantinya terlibat dalam proses pemeriksaan atau penyusunan drafting paten, kualitas hasilnya dapat sesuai dengan kebutuhan dan standar yang berlaku,” kata Tessa.
Tessa menambahkan, DJKI juga akan menyiapkan materi pembelajaran yang lebih luas melalui berbagai metode, termasuk pelatihan tatap muka, pendampingan langsung oleh pemeriksa senior, hingga pengembangan konten pembelajaran digital. Langkah tersebut diharapkan dapat menjangkau lebih banyak peneliti yang tersebar di berbagai wilayah Indonesia.
Sementara itu, Deputi Bidang Fasilitasi Riset dan Inovasi (DFRI) pada Badan Riset dan Inovasi Nasional (BRIN) Prof. Agus Haryono menyambut baik rencana penguatan kerja sama tersebut. Prof. Agus menilai pelatihan dan pendampingan dari DJKI akan membantu meningkatkan kualitas penyusunan dokumen paten oleh para peneliti sehingga potensi inovasi nasional dapat terlindungi secara optimal.
Prof. Agus juga menyatakan kesiapan untuk menindaklanjuti kebutuhan sumber daya manusia yang diperlukan DJKI. Informasi mengenai bidang keahlian dan jumlah kebutuhan tenaga akan menjadi dasar dalam menentukan bentuk dukungan yang dapat diberikan melalui mekanisme penugasan maupun kerja sama lainnya.
Selain isu pemeriksaan paten, pertemuan tersebut turut membahas pembentukan Sentra KI di lingkungan Badan Riset dan Inovasi Daerah (BRIDA), Badan Perencanaan Pembangunan, Riset dan Inovasi Daerah (Bapperida), serta Kawasan Sains dan Teknologi (KST). Keberadaan Sentra KI diharapkan dapat memperluas layanan dan pendampingan kekayaan intelektual bagi para peneliti dan inovator di daerah.
Melalui kolaborasi ini, DJKI optimis kualitas dan kapasitas layanan paten nasional akan semakin meningkat. Sinergi antara regulator dan lembaga riset diharapkan mampu mempercepat hilirisasi inovasi serta memperkuat daya saing Indonesia berbasis kekayaan intelektual. (*)
